Auf der ersten Semicon Europa in Dresden präsentierte camLine die folgenden Erweiterungsmöglichkeiten in der Qualitätskontrolle und der Prozesssicherheit:

• SDC (Statistische Prozesskontrolle) für die Klassifizierung und Auswertung von Defekten mit Hilfe einer Wafer-Map,
• RM (Rezept Management) mit einem Frühwarnszenario zur Reduzierung der Maschinen-Rüstzeit.

Wenn Sie mehr über SDC und RM erfahren möchten, senden Sie eine e-Mail mit Ihrer Anfrage an info@camline.com.