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AI-Driven Analytics

Durch die Einführung künstlicher Intelligenz wird die Ursachenanalyse von Wafer-Maps effektiver. Sie erweitern konventionelle statistische Werkzeuge mit neuartigen Algorithmen des maschinellen Lernens, um die Entscheidungsfindung bei der Fertigungsdurchführung noch weiter zu automatisieren.


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